JEDEC veröffentlicht erste branchenweite Zuverlässigkeitsnorm für Siliziumphotonik
JEDEC hat die Norm JESD264 veröffentlicht, die erste branchenweite Regelung für Zertifizierung und Zuverlässigkeit von Siliziumphotonik (SiPh)-Bauteilen. Ziel ist die Reduzierung von Implementierungsrisiken und die Förderung einer breiteren Akzeptanz.
Die JEDEC Solid State Technology Association hat am 1. Oktober die JESD264-Norm veröffentlicht, die branchenweite Anforderungen für die Zertifizierung und Zuverlässigkeit von Siliziumphotonik (SiPh)-Bauteilen festlegt. Dies ist die erste einheitliche Spezifikation für Zertifizierungs- und Zuverlässigkeitspraktiken im gesamten SiPh-Sektor.
Zuvor mangelte es im Bereich der Siliziumphotonik an einem standardisierten, branchenweiten Rahmen für Zuverlässigkeit und Verifizierung, was zu Unsicherheiten in der gesamten Lieferkette führte. JESD264 schafft gemeinsame Benchmarks für Test- und Fertigungskontrollen, um Implementierungsrisiken zu mindern.
Die Norm unterstützt die Integration komplexer photonischer Chipsätze, einschließlich Lasern, Modulatoren und Fotodioden, und klärt die Zuverlässigkeitsverantwortlichkeiten zwischen Foundries, Outsourcing-Dienstleistern und Systementwicklern. Dies soll die Konsistenz im gesamten SiPh-Ökosystem verbessern.
Mian Quddus, Vorsitzender des JEDEC-Vorstands, erklärte, dass die Norm die notwendige Zuverlässigkeitsgrundlage für die breitere Anwendung der SiPh-Technologie schaffe, angetrieben durch steigende Anforderungen in den Bereichen KI, Cloud Computing und Hochgeschwindigkeitskommunikation. Er fügte hinzu, dass dies die Innovation beschleunigen und die branchenweite Koordination stärken werde.