OMRON integriert NVIDIA-Technologien in Inspektionssysteme

Kyoto, Japan – OMRON Corporation hat eine Erweiterung seiner Zusammenarbeit mit NVIDIA angekündigt, indem die NVIDIA Omniverse und Metropolis Bibliotheken in die automatisierten optischen Inspektions- (AOI) und 3D-CT-Röntgeninspektionssysteme (AXI) des Unternehmens integriert werden.

Ziel der Integration ist die Verbesserung des Inspektionsprozesses in der Halbleiterindustrie. Die neue Technologie ermöglicht die genaue Visualisierung von wärmebedingten Verformungen auf Leiterplatten und erleichtert die KI-gesteuerte "fertigkeitslose" Inspektion, mit dem Ziel, den Sektor zu revolutionieren.

Die Technologie kombiniert OMRONs Automatisierungskompetenz mit NVIDIAs KI- und Simulationstechnologien. Sie verknüpft bisher getrennte Produktionsdaten und ermöglicht so neue Erkenntnisse sowie Verbesserungen in Produktivität und Qualität. OMRON erweitert die Anwendung von digitalen Zwillingen auf Inspektionsprozesse, die Präzision im Mikrometerbereich erfordern.

Zu den wichtigsten Initiativen der Zusammenarbeit gehören die Visualisierung von Leiterplattenverformungen durch Simulation, die Untersuchung verborgener Ursachenzusammenhänge durch die Kombination von AOI- und AXI-Daten sowie der Einsatz von KI-Agenten zur Unterstützung der Inspektion. Diese KI-Agenten können historische Daten analysieren und einfache Erklärungen für komplexe Probleme wie Leiterplattenverformungen liefern.

OMRON gibt an, dass die neue Lösung Kunden dabei helfen wird, produktionsbeeinflussende Faktoren zu visualisieren, die Kompetenzentwicklung für neue Bediener zu beschleunigen und den Return on Investment für Produktionslinien zu maximieren.