Huayang Precision ja Zeiss julkistavat puolijohdemittauslaitteen
Taiwanilainen puolijohdevalmistaja Huayang Precision on yhteistyössä Zeissiin kanssa julkistanut COSMA-M-mittauslaitteen, joka tarjoaa nanometrien tarkkuuden puolijohdeteollisuuden käyttöön.

Taiwanilainen puolijohdevalmistaja Huayang Precision ilmoitti 5. lokakuuta lanseeraavansa COSMA-M-mittauslaitteen yhdessä saksalaisen teknologiayhtiö Zeissiin kanssa. Uusi laite on suunniteltu täyttämään puolijohdeteollisuuden, erityisesti maskien valmistuksen, kehittyneiden pakkausten ja kiekkojen valmistuksen, vaativat mittaustarpeet.
COSMA-M pystyy tarjoamaan nanometrien tarkkuuden mittauksia, saavuttaen 3σ alle 3 nanometrin stabiilisuuden. Tämä suorituskyky on kriittinen uusimpien puolijohdeprosessien vaatiman korkean tarkkuuden varmistamiseksi. Laitteeseen voidaan liittää lisämoduuleja, jotka mahdollistavat täysin automatisoidut mittausprosessit.
Laitteen sovellusalueet kattavat syväultravioletti (DUV) -maskit, kehittyneet pakkausteknologiat, Through-Glass Vias (TGV) ja Co-Packaged Optics (CPO) -ratkaisut. Huayang Precision on jo aloittanut laitteen validoinnin potentiaalisten asiakkaiden kanssa, ja alustavat testit ovat käynnissä.
Laite pyrkii vastaamaan puolijohdeteollisuuden kasvavaan tarpeeseen tarkkuudesta ja automaatiosta valmistusprosessien kaikissa vaiheissa. Yhteistyö Zeissiinkaan, tunnetun optiikka- ja mittaustekniikan asiantuntijan, vahvistaa Huayang Precisionin kykyä toimittaa edistyneitä ratkaisuja.