JEDEC julkaisi ensimmäisen piifotoniikan luotettavuusstandardin
JEDEC on julkaissut JESD264-standardin, ensimmäisen teollisuudenlaajuisen piifotoniikan (SiPh) laitteiden luotettavuutta koskevan standardin. Se pyrkii vähentämään käyttöönoton riskejä ja edistämään teknologian laajempaa käyttöä.
JEDEC Solid State Technology Association julkaisi 1. lokakuuta JESD264-standardin, joka määrittelee piifotoniikan (SiPh) laitteiden sertifiointi- ja luotettavuusvaatimukset. Tämä on ensimmäinen koko teollisuuden kattava yhtenäinen käytäntö piifotoniikkalaitteiden sertifiointiin ja luotettavuuteen.
Uusi standardi vastaa piifotoniikka-alan puutteeseen yhtenäisessä luotettavuuden varmistuskehyksessä. Tällaisen kehyksen puuttuminen on aiheuttanut epävarmuutta koko toimitusketjussa. JESD264 luo yhteiset testaus- ja valmistuskontrollin vähimmäisvaatimukset, mikä auttaa vähentämään käyttöönoton riskejä.
Standardi tukee monimutkaisten fotoniikkasirujen integrointia, sisältäen laserit, modulaattorit ja optiset rakenteet. Se selkeyttää myös luotettisuusvastuita valmistajien, testaajien ja järjestelmäkehittäjien välillä, mikä parantaa koko piifotoniikkaekosysteemin johdonmukaisuutta.
JEDEC:n hallituksen puheenjohtaja Mian Quddus totesi, että standardi luo tarvittavan luotettavuuden perustan piifotoniikan laajempaan käyttöönottoon tekoälyn, pilvipalveluiden ja nopean tiedonsiirron kasvaessa. Standardi nopeuttaa innovointia ja parantaa alan koordinaatiota.