Omron parantaa puolijohdetarkastusta NVIDIA Omniverse -yhteistyöllä
Omron Corporation on laajentanut yhteistyötään NVIDIA:n kanssa hyödyntääkseen digitaalisia kaksosia puolijohdekomponenttien tarkkuuden parantamiseksi ja prosessien yksinkertaistamiseksi.
Omron Corporationin teollisuusautomaatioliiketoiminta on syventänyt yhteistyötään NVIDIA:n kanssa digitaalisten kaksosten avulla puolijohdekomponenttien tarkastuksen parantamiseksi. Uusi lähestymistapa yhdistää OMRONin tarkastuslaitteet (AOI ja AXI) NVIDIA Omniverse -alustaan, tavoitteena parantaa puolijohdepakkausten laatua ja tuottavuutta.
Teknologian avulla voidaan visualisoida ja analysoida puolijohdepohjaisiin piirilevyihin asennettujen elektronisten komponenttien vääntymistä hyödyntäen tekoälyä. Tämä yksinkertaistaa diagnostiikkaa ja pyrkii vähentämään riippuvuutta yksittäisten asiantuntijoiden osaamisesta, mikä on yhä tärkeämpää globaalin osaajapulan vuoksi.
Yhteistyö hyödyntää digitaalista kaksoisteknologiaa ja tekoälyä kolmella pääalueella: elektronisten komponenttien vääntymisen visualisointi ja ennakoiva analyysi, AOI- ja AXI-tietojen yhdistäminen piilotettujen syy-seuraussuhteiden tunnistamiseksi sekä tekoälyagenttien käyttö tarkastustehtävien yksinkertaistamiseksi.
Omronin mukaan tämä kehitys on merkittävä askel kohti vakaampia valmistusprosesseja ja parantunutta saantoprosenttia puolijohdeteollisuudessa, vastaten samalla markkinoiden kasvaviin laatuvaatimuksiin.