JEDEC publie la première norme industrielle de fiabilité pour la photonique du silicium
JEDEC a publié la norme JESD264, la première réglementation mondiale pour la certification et la fiabilité des dispositifs de photonique du silicium (SiPh). L'objectif est de réduire les risques de déploiement et de soutenir une adoption plus large.
La JEDEC Solid State Technology Association a publié le 1er octobre la norme JESD264, établissant des exigences à l'échelle industrielle pour la certification et la fiabilité des dispositifs de photonique du silicium (SiPh). Il s'agit de la première spécification unifiée pour les pratiques de certification et de fiabilité dans l'ensemble du secteur SiPh.
Auparavant, le domaine de la photonique du silicium manquait d'un cadre standardisé à l'échelle de l'industrie pour la propriété et la vérification de la fiabilité, ce qui entraînait une incertitude tout au long de la chaîne d'approvisionnement. JESD264 établit des points de référence communs pour les tests et les contrôles de fabrication, visant à atténuer les risques de déploiement.
La norme prend en charge l'intégration de jeux de puces photoniques complexes, y compris des lasers, des modulateurs et des photodiodes, et clarifie les responsabilités en matière de fiabilité entre les fonderies, les installations d'assemblage et de test externalisées et les développeurs de systèmes. Cela vise à améliorer la cohérence au sein de l'ensemble de l'écosystème SiPh.
Mian Quddus, président du conseil d'administration de JEDEC, a déclaré que la norme fournit la base de fiabilité nécessaire pour une application plus large de la technologie SiPh, stimulée par les demandes croissantes en matière d'IA, de cloud computing et de communications à haute vitesse. Il a ajouté que cela accélérera l'innovation et renforcera la coordination à l'échelle de l'industrie.