Omron améliore l'inspection des semi-conducteurs grâce à la collaboration NVIDIA Omniverse
OMRON Corporation a élargi sa collaboration avec NVIDIA pour exploiter les jumeaux numériques afin d'améliorer la précision de l'inspection des semi-conducteurs et de simplifier les processus.
L'activité d'automatisation industrielle d'OMRON Corporation a approfondi sa collaboration avec NVIDIA, en utilisant des jumeaux numériques pour améliorer l'inspection des composants semi-conducteurs. La nouvelle approche combine les équipements d'inspection d'OMRON (AOI et AXI) avec la plateforme NVIDIA Omniverse, dans le but d'améliorer la qualité et la productivité des boîtiers semi-conducteurs.
La technologie permet la visualisation et l'analyse du gauchissement des composants électroniques montés sur des circuits imprimés à base de semi-conducteurs, en utilisant l'intelligence artificielle. Cela simplifie le diagnostic et vise à réduire la dépendance à l'égard des connaissances d'experts individuels, une préoccupation croissante en raison de la pénurie mondiale de compétences.
La collaboration exploite la technologie des jumeaux numériques et l'IA dans trois domaines principaux : la visualisation et l'analyse prédictive du gauchissement des composants électroniques, la fusion des données AOI et AXI pour identifier les relations de cause à effet cachées, et l'utilisation d'agents d'IA pour simplifier les tâches d'inspection.
Selon Omron, ce développement constitue une étape importante vers des processus de fabrication plus stables et des rendements améliorés dans l'industrie des semi-conducteurs, tout en répondant aux exigences de qualité croissantes du marché.