OMRON intègre les technologies NVIDIA dans ses systèmes d'inspection

Kyoto, Japon – OMRON Corporation a annoncé une expansion de sa collaboration avec NVIDIA en intégrant les bibliothèques NVIDIA Omniverse et Metropolis aux systèmes d'inspection optique automatisée (AOI) et d'inspection par rayons X 3D-CT (AXI) de l'entreprise.

L'objectif de cette intégration est d'améliorer le processus d'inspection dans l'industrie des semi-conducteurs. La nouvelle technologie permettra la visualisation précise des déformations induites par la chaleur dans les circuits imprimés et facilitera une inspection "sans compétence" basée sur l'IA, dans le but de révolutionner le secteur.

La technologie combine l'expertise d'OMRON en automatisation avec les technologies d'IA et de simulation de NVIDIA. Elle relie des données de fabrication auparavant isolées, permettant de nouvelles perspectives et des améliorations en termes de productivité et de qualité. OMRON étend l'application des jumeaux numériques aux processus d'inspection qui exigent une précision au niveau du micromètre.

Les principales initiatives de cette collaboration comprennent la visualisation des déformations de circuits imprimés par simulation, l'investigation des relations de cause à effet cachées en combinant les données AOI et AXI, et l'utilisation d'agents IA pour assister l'inspection. Ces agents IA peuvent analyser des données historiques et fournir des explications simples à des problèmes complexes, tels que la déformation des circuits imprimés.

OMRON affirme que la nouvelle solution aidera les clients à visualiser les facteurs affectant la production, à accélérer le développement des compétences des nouveaux opérateurs et à maximiser le retour sur investissement des lignes de production.