PI lance une platine P-733 pour l'imagerie haute résolution

Physik Instrumente (PI) a lancé sa nouvelle platine XYZ P-733, un système de positionnement de précision conçu pour les applications de microscopie à force atomique (AFM), de métrologie et d'imagerie avancée. La platine offre un mouvement sans usure, une réponse rapide et une ouverture claire pour la microscopie à transmission.

Basée à Shrewsbury, Massachusetts, PI est reconnue mondialement pour son expertise dans les technologies de piézo-positionnement et de palier à air. La P-733 est développée pour répondre aux exigences strictes des applications scientifiques et industrielles où une précision extrême est primordiale.

La conception sans usure de la platine assure longévité et performance constante, essentielle pour des mesures répétables et des résultats fiables dans les environnements de recherche et développement. Cette caractéristique minimise la dégradation au fil du temps, maintenant une haute précision.

Son ouverture claire facilite l'utilisation de la microscopie à transmission, élargissant ainsi son utilité. Cette capacité permet aux chercheurs d'effectuer des analyses détaillées d'échantillons avec un trajet optique dégagé, améliorant la qualité de l'imagerie et de la mesure. Le système P-733 vise à améliorer considérablement la précision et l'efficacité de l'AFM et d'autres techniques d'imagerie à haute résolution, soutenant ainsi les avancées dans la découverte scientifique et le développement technologique.