JEDEC lanserar branschens första standard för kiselfotonik tillförlitlighet
JEDEC har släppt standarden JESD264, den första industrispecifika standarden för tillförlitlighet och certifiering av kiselfotonik (SiPh)-enheter. Syftet är att minska implementationsrisker och främja bredare användning.
JEDEC Solid State Technology Association släppte den 1 oktober JESD264, som fastställer krav för certifiering och tillförlitlighet hos kiselfotonik (SiPh)-enheter. Detta är den första industritäckande, enhetliga standarden för certifierings- och tillförlitlighetspraxis inom kiselfotonik.
Branschen för kiselfotonik har tidigare saknat en standardiserad, gemensam ram för tillförlitlighet, vilket har lett till osäkerhet i hela leveranskedjan. JESD264 etablerar en gemensam baslinje för testning och tillverkningskontroll, vilket bidrar till att minska implementeringsrisker.
Standarden stöder integrationen av komplexa fotoniska chip, inklusive lasrar, modulatorer och optiska komponenter. Den klargör också ansvarsfördelningen för tillförlitlighet mellan gjuterier, testföretag och systemutvecklare, vilket förbättrar konsistensen i hela kiselfotonikekosystemet.
Mian Quddus, ordförande för JEDEC:s styrelse, betonade att standarden lägger grunden för tillförlitlighet som krävs för bredare användning av kiselfotonik, drivet av ökad efterfrågan inom AI, molntjänster och höghastighetskommunikation. Denna standard kommer att påskynda innovation och stärka samordningen inom industrin.