OMRON integrerar NVIDIA-teknik i inspektionssystem

Kyoto, Japan – OMRON Corporation har meddelat att de utökar sitt samarbete med NVIDIA genom att integrera NVIDIAs Omniverse- och Metropolis-bibliotek i företagets automatiserade optiska inspektions- (AOI) och 3D-CT röntgeninspektionssystem (AXI).

Syftet med integrationen är att förbättra inspektionsprocessen inom halvledarindustrin. Den nya tekniken möjliggör exakt visualisering av värmerelaterade deformationer på kretskort och AI-driven "färdighetslös" inspektion, med ambitionen att revolutionera branschen.

Tekniken kombinerar OMRONs expertis inom automation med NVIDIAs AI- och simuleringstekniker. Den kopplar samman tidigare isolerade produktionsdata, vilket möjliggör nya insikter samt förbättringar i produktivitet och kvalitet. OMRON utökar tillämpningsområdet för digitala tvillingar till inspektionsprocesser som kräver mikronnivåprecision.

Centrala initiativ i samarbetet inkluderar visualisering av kretskortsdeformation genom simulering, undersökning av dolda orsakssamband genom att kombinera AOI- och AXI-data, samt användning av AI-agenter för att assistera inspektionen. AI-agenterna kan analysera historisk data och ge enkla förklaringar till komplexa problem, såsom deformation av kretskorten.

Enligt OMRON kommer den nya lösningen att hjälpa kunder att visualisera produktionspåverkande faktorer, snabba upp kompetensutvecklingen hos nya operatörer och maximera avkastningen på produktionslinjerna.