PI presenterar ny mikroskopisk precisionsplattform

Physik Instrumente (PI) har lanserat sin nya P-733 XYZ-positioneringsplattform, som är avsedd för applikationer inom atomkraftsmikroskopi (AFM), metrologi och avancerad bildbehandling. Systemet erbjuder slitstark rörelse, snabb respons och en tydlig öppning för genomlysande mikroskopi.

PI, baserat i Shrewsbury, Massachusetts, är känt globalt för sin expertis inom piezopositionering och luftlagringsteknik. Företaget utvecklar P-733 för att möta de stränga kraven från vetenskapliga och industriella applikationer som kräver extrem precision.

Den slitstarka designen säkerställer lång livslängd och stabil prestanda, även under krävande förhållanden. Detta är avgörande för upprepningsbara mätningar och tillförlitliga resultat inom forskning och utveckling.

Plattformens tydliga öppning möjliggör användning av genomlysande mikroskopi, vilket utökar dess mångsidighet. Detta ger forskare möjlighet att utföra detaljerade analyser av prover med en obehindrad optisk bana. P-733-systemet syftar till att förbättra noggrannheten och effektiviteten avsevärt inom AFM och andra högupplösta bildbehandlingstekniker, vilket bidrar till vetenskapliga framsteg.